کتاب نحوه تست و عیب یابی قطعات در مدارهای الکترونیکی


7,000 تومان



توضیحات

توضیحات محصول

در این کتاب با روش های تست قطعات الکترونیکی نظیر دیود، تریستور، BJT، JFET و Mosfet آشنا شده و نحوه عیب یابی مدارات دارای BJTها و JFETها را با کمک یک اهم متر ساده و قوانین کریشهف خواهید آموخت. در ادامه تکنیک های کلی عیب یابی مدارات الکترونیکی اعم از بردهای صنعتی و … آموزش داده خواهد شد.
 
سرفصل ها

۱- تست دیود

۲- تست تریستورها

۳- تست تریاک ها

۴- تست کردن ترانزیستورهای BJT

۵- عیب یابی مدارات دارای ترانزیستور BJT

۶- تست کردن ترانزیستورهای اثر میدانی یا FETها

۷- عیب یابی مدارات دارای JFET

۸- عیب یابی تقویت کننده های عملیاتی

۹- برخی از اشکالات رایج در مدارات داری آپ امپ

۱۰- خلاصه مطلب

۱۱- تکنیک های عیب یابی

۱۲- بررسی دلایل به وجود آمدن عیب

۱۳- تحلیل خرابی

۱۴- ضمیمه ۱: شمای فنی قطعات

۱۵- ضمیمه ۲: ترسیم نقشه مدار

۱۶- ضمیمه ۳: سیمبل های الکترونیکی

اطلاعات

مولفین: یاسمن قرایی -مرتضی سلطانیه

تعداد صفحه: ۶۳

اطلاعات بیشتر

اطلاعات بیشتر

وزن 100 g

نظرات (0)

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “کتاب نحوه تست و عیب یابی قطعات در مدارهای الکترونیکی”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

محصولات مشابه

X